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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C概述HAD-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直四探針?lè)ā凡⒖济?A
產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件,電氣 |
數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C
臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀概述
HAD-2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直四探針?lè)ā凡⒖济?A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)能，大分類(lèi)10類(lèi)。
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測(cè)試臺(tái)選配：般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑： HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(zhǎng)()度： 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5．外形尺寸： 245mm（長(zhǎng)）×220 mm（寬）×95mm（）
凈 重：≤1.5～2.0kg
2.分離式土壓力計(jì) 土壓力計(jì) 型號(hào)：H16347
承壓薄板與傳感器分離的結(jié)構(gòu)，是按照土壓力測(cè)試?yán)碚摰囊蠖O(shè)計(jì)的，能大大降低土壓計(jì)埋設(shè)位置上土應(yīng)力集中的現(xiàn)象，匹配特性好，測(cè)點(diǎn)應(yīng)力場(chǎng)畸變小，保證了測(cè)量精度，適合于土中應(yīng)力的測(cè)定。等效彈性膜量的提高，能保證邊界土壓力的測(cè)量精度，所以也適合于邊界土壓力的測(cè)定。
測(cè)量范圍： 0～0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0 （MPa）
分辨率： ＜0.2％ F.S
綜合誤差： ＜1.5％ F.S
尺寸： 承壓板 Φ140×9（mm） 總長(zhǎng) 410（mm）
工作溫度： －30～70℃
4.單膜土壓力計(jì) 土壓力計(jì) 型號(hào)：H16346
工作面為單膜結(jié)構(gòu)，該種土壓計(jì)應(yīng)用歷史較長(zhǎng)，生產(chǎn)工藝成熟，性能穩(wěn)定。適合對(duì)軟土介質(zhì)等均布邊界土壓力的測(cè)定，也可用于流體壓力的測(cè)定。
測(cè)量范圍： 0～0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0 （MPa）
分辨率： ＜0.2％ F.S
綜合誤差： ＜1.0％ F.S
尺寸： Φ110×25（mm）
工作溫度： －30～70℃
5.雙膜土壓力計(jì) 土壓力計(jì) 型號(hào)：H16345
雙膜土壓力計(jì) 活塞式雙膜結(jié)構(gòu)。工作面受力變形特征是平面位移，對(duì)不同性質(zhì)和粒徑的介質(zhì)，有良好的適應(yīng)性。適用于邊界土壓力的測(cè)定，也可用于凍土凍脹力和剛性單體壓力的測(cè)定。
測(cè)量范圍： 0～0.1、0.2、0.3、0.4、0.5、0.6、0.8、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0、6.0、8.0、10.0 （MPa）
分辨率： ＜0.2％ F.S
綜合誤差： ＜1.0％ F.S
尺寸： Φ110×32（mm）±
工作溫度： －30～70℃
八籃恒溫烘箱 型號(hào)：H16344
【適用范圍】：用于各種纖維、紗線、紡織品回潮率（或含水率）測(cè)定及其他恒溫烘干。
【相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)】：GB/T9995、ISO6741.1、ISO2060
【技術(shù)參數(shù)】：
1溫度范圍 室溫～150℃
2控制精度 ±2℃
3天平稱(chēng)量 300g感量:0.01g
4 外形尺寸 L960×W810×H1150
以上參數(shù)資料與圖片相對(duì)應(yīng)
010-51655247
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2025-10-24
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